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WLCSP(WaferLevelChipScalePackaging)即晶圓級芯片封裝方式,不同于傳統的芯片封裝方式(先切割再封測,而封裝后至少增加原芯片20%的體積),此種技術是先在整片晶圓上進行封裝和測試,然后才切割成一個個的IC顆粒,...
化學機械拋光機CMP是集化學反應與機械作用于一體的表面加工技術,廣泛應用于半導體、光學、液晶顯示器(LCD)以及其他精密工業中,尤其在集成電路(IC)的制造過程中起到了至關重要的作用。CMP技術通過化學反應和機械力的協同作用,有效去除材料表面不平整的部分,使得表面達到鏡面級的平滑度。化學機械拋光機CMP的工作原理:1.化學反應:化學反應主要是通過化學溶液中的活性物質與材料表面發生反應,溶解表面的一部分物質。這些化學溶液通常是酸性或堿性的,含有一定濃度的腐蝕劑,能夠選擇性地去除...
脈沖激光沉積鍍膜機PLD是一種利用激光脈沖的能量將靶材表面材料激發并蒸發,經過氣相傳播后沉積在基片上的薄膜制備技術。PLD技術是一種高度精確的薄膜沉積方法,廣泛應用于材料科學、半導體、光電子、磁性材料、超導材料、陶瓷涂層等領域。PLD技術具有諸多優勢,包括較好的薄膜質量、高度的成膜精度以及對材料的適應性等。脈沖激光沉積鍍膜機PLD的工作原理:1.激光照射:激光脈沖被聚焦到靶材表面,靶材表面瞬間吸收激光能量,局部加熱到足夠高的溫度,使得靶材表面發生蒸發。2.等離子體形成:激光的...
化學機械拋光機CMP是一種重要的半導體制造技術,結合了化學和機械作用,通過物理和化學兩種方式對半導體材料表面進行拋光平整。CMP技術在半導體制造中起著至關重要的作用,尤其是在集成電路(IC)的生產過程中,用于去除表面的缺陷、確保表面平坦度以及提供更高的芯片性能。化學機械拋光機CMP的工作原理:1.機械作用:CMP過程中的機械作用來源于拋光墊和拋光盤的摩擦力。拋光墊通常由軟質的材料制成,具有一定的彈性,它通過與晶圓表面接觸,將外部施加的力傳遞到晶圓上,使晶圓表面局部受到磨削力的...
半導體參數測試儀是用于測試半導體器件(如二極管、晶體管、集成電路等)電氣性能和特性的專業測試儀器。它能夠精確測量半導體器件的基本參數,如電流、電壓、功率、輸入/輸出特性、工作點等,廣泛應用于半導體研發、生產、品質控制和故障分析等領域。其作用就是對半導體器件的各種特性進行全面、準確的測試,幫助研究人員和工程師了解器件的工作狀態、性能極限以及潛在的缺陷。半導體參數測試儀的工作原理:1.電壓、電流調節與測量測試儀可以輸出精確的電壓信號,并測量通過器件的電流。不同的電流與電壓組合下,...
多路溫度記錄儀是一種用于實時監測和記錄多個溫度點的設備,廣泛應用于工業生產、科研實驗、環境監測等領域。能夠同時連接多個溫度傳感器,并將各通道的數據集中顯示、記錄和分析,大大提高了工作效率和數據準確性。多路溫度記錄儀的工作原理:1.傳感器布置:根據實際需求,在待測位置安裝相應數量的溫度傳感器(如熱電偶、RTD、熱敏電阻等)。2.信號采集:內置多通道模擬輸入模塊,可以接收來自各個傳感器的電信號。3.模數轉換:將接收到的模擬信號轉換為數字信號,便于后續處理。4.數據處理:內置微處理...